MikroTest系列涂层测厚仪
一、 MikroTest涂层测厚仪产品名录
麦考特测厚仪根据量程大小可分为G6,F6,G7,F7,S3,S5,S10和S20以及笔式测厚仪等各种不同规格的测厚仪,较~小的测量范围是0-100微米,较~大的是7.5-20毫米;又根据表现形式分为圆盘指针式的和数字显示的(如新型的G7,F7等);还根据外观的不同分为香蕉形的(俗称)和笔式测厚仪,特别要注意的是,EPK还有二种特殊规格的麦考特测厚仪:即测量铜铝塑料基底上镀镍的Ni50,Ni100和测量铁基底上镀镍的NiFe50。
常规涂层测厚仪的原理
对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。
覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,两用涂层测厚仪,是产品达到优等质量标准的*手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。
覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中**种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量,非铁基涂层测厚仪,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测较薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步,电解涂层测厚仪,特别是近年来引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%,有了大幅度的提高。它适用范围广,量程宽、操作简便且**,涂层测厚仪,是工业和科研使用较广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。